X射線顯微鏡Xradia 610 Versa “定位-和-放大”技術可以快速獲取內部結構，無需對樣品進行處理;優異的亞微米分辨率可實現對工藝參數和材料表征進行詳細分析;更快效率可對增材制造工藝過程及質量進行檢查。
? 增材制造(AM)粉末床中顆粒形狀、尺寸和分布成像，以確定合適工藝參數;
? 用于零件微觀結構分析的高分辨率無損成像;
? 用于與標稱CAD圖示相比較的增材制造(AM)三維成像;
? 未熔化顆粒、高原子序數夾雜物和空洞的檢測分析;
? 其它方法無法獲取的內部結構進行表面粗糙度分析。
蔡司X射線顯微鏡應用在3D打印增材制造領域
分類：公司新聞 發布時間：2020-12-14 37207次瀏覽
X射線顯微鏡Xradia 610 Versa “定位-和-放大”技術可以快速...
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