近年來雙束電鏡已經成為納米級科學研究和工業生產中非常強有力的分析研究工具。學習蔡司雙束電鏡系統基礎原理課程，掌握雙束掃描電鏡工作原理及應用方向，助力科研成長之路，為您的研究尋找新的突破。
? 雙束電鏡系統與掃描電鏡相比的差異科普
? 它的工作原理和操作的基本流程是什么?
? 它是怎樣實現對樣品成像、刻蝕和氣體沉積的?
? 通過以上這些功能，雙束電鏡都有哪些主要應用?
友碩小編了解到蔡司雙束電鏡Crossbeam系列進行了升級換代，新的產品系列結合了高分辨率場發射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束(FIB)的優異加工能力。
蔡司雙束電鏡Crossbeam系列結合了高分辨率場發射掃描電鏡(FE-SEM)的出色成像和分析性能，以及新一代聚焦離子束(FIB)的優異加工能力。無論是用于多用戶實驗平臺，還是科研或工業實驗室， 利用Crossbeam系列模塊化的平臺設計理念，您可基于自身需求隨時升級儀器系統(例如使用LaserFIB進行大規模材料加工)。在加工、成像或是實現三維重構分析時，Crossbeam系列將大大提升您的聚焦離子束(FIB)應用效率。
