飛機(jī)渦輪葉片，面臨如何去測(cè)量它的涂層厚度，包括內(nèi)外尺寸的一些分析，粗糙度測(cè)量和波紋度測(cè)量，這也是目前來(lái)說(shuō)行業(yè)需要達(dá)成統(tǒng)一的一個(gè)難點(diǎn)。而整體葉盤(pán)，由于其測(cè)量周期比較長(zhǎng)，喉道又比較狹窄，如何去完成高效的一個(gè)測(cè)量，同時(shí)又要兼顧計(jì)算喉道面積，同時(shí)完成粗糙度和波紋度的測(cè)量——這也是亟待解決的一個(gè)問(wèn)題。
譬如，針對(duì)葉片金相切片分析，蔡司光學(xué)顯微鏡Axio Lab/ Scope/ Imager，Axio Observer可以出色完成切片法檢測(cè)工件表面鍍層厚度，鍍層內(nèi)缺陷觀察，鎳封顆粒自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，以及鍍層表面微裂紋，和晶粒評(píng)級(jí)。
針對(duì)翼型涂層厚度測(cè)量，ZEISS Axio Lab/ Scope/ Imager，Axio Observer以及配套軟件ZEN Core可以測(cè)量熱障涂層的厚度。該模塊能夠以自動(dòng)或交互方式評(píng)估熱障涂層厚度。
