聚焦離子束掃描電鏡Focused lon Beam SEM，當(dāng)需要對(duì)細(xì)胞器等微小生物結(jié)構(gòu)，進(jìn)行三維高分辨成像與分析的時(shí)候，我們可以使用FIB-SEM雙束掃描電鏡。
該技術(shù)利用高能聚焦的離子束對(duì)樣品上的微小區(qū)域進(jìn)行精密刻蝕，逐層刻蝕樣品橫切面，不斷地暴露出新鮮切面，并使用電子束對(duì)新鮮切面實(shí)現(xiàn)連續(xù)成像，在x、y、z三個(gè)維度上同時(shí)具有納米級(jí)別的分辨率，是進(jìn)行亞細(xì)胞器級(jí)別精細(xì)結(jié)構(gòu)三維成像分析的更佳選擇。
蔡司FIB掃描電鏡Crossbeam系列FIB-SEM提供穩(wěn)定的三維成像，并輔助多項(xiàng)智能化功能設(shè)計(jì)，讓整體工作流程簡(jiǎn)單、智能、易用。
冷凍聚焦離子束掃描電鏡Cryo FIB-SEM
當(dāng)需要對(duì)化學(xué)試劑處理
敏感的生物結(jié)構(gòu)
進(jìn)行自然狀態(tài)成像的時(shí)候
我們可以使用cryo FIB-SEM
該方法在全程冷凍的條件下對(duì)樣品成像，可以有效的避免敏感的生物結(jié)構(gòu)在經(jīng)過(guò)常規(guī)化學(xué)處理的過(guò)程中遭到破壞，甚至形成人造偽影，更大程度獲得樣品的真實(shí)三維結(jié)構(gòu)信息。
蔡司Crossbeam系列FIB-SEM配備冷凍傳輸系統(tǒng)，-機(jī)多用，均可做常溫和冷凍FIB-SEM兩用。
優(yōu)越的鏡筒設(shè)計(jì)讓未經(jīng)過(guò)任何染色的生物結(jié)構(gòu)也能被呈現(xiàn)得清清楚楚，是進(jìn)行冷凍三維超微結(jié)構(gòu)的優(yōu)質(zhì)選擇。
